Физико-химические методы анализа материалов и элементов...

Main
Физико-химические методы анализа...

Физико-химические методы анализа материалов и элементов электронной техники

Подгорнов, Ф. В. (авт.)

0 / 0

Koliko vam se sviđa ova knjiga?

Kakav je kvalitet fajla?

Preuzmite knjigu radi procene kvaliteta

Kakav je kvalitet preuzetih fajlova?

Izdavač:

ЮУрГУ

Jezik:

russian

Fajl:

PDF, 2.08 MB

IPFS:

,

russian0

Preuzeti (pdf, 2.08 MB)

Konvertovanje u je u toku

Konvertovanje u nije uspešno

Možda će vas zanimati

Минченя, Н. Т. — Методы и средства контроля медико-биологических параметров

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов. Практикум

Сенин, А. В. (авт.) — Физико-химические методы исследования материалов. Состав, Структура

Дубровин, В. К. (авт.) — Инструментальные методы анализа и контроля материалов и процессов

Дидух-Шадрина Светлана Леонидовна — Современные физико-химические методы анализа : учебно-методическое пособие

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

Авксентьев Ю.И. и др. — Физика твердого тела. Структура твердого тела и магнитные явления. Спецпрактикум.

Н.Н. Сирота (ред.) — Кинетика и механизм кристаллизации.

А.А. Блинникова — Спектрофотометрия и фотоэлектроколориметрия в анализе лекарственных средств.

Кобыш А. Н., Рогов А. Ю. — Оптическое материаловедение: Методические указания к лабораторным работам

Черноруков Н. Г., Нипрук О. В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа: Электронное учебно-методическое пособие

— Спектрофотометр СФ-46

— Фотометр фотоэлектрический КФК-3. Техническое описание и инструкция по эксплуатации

Кацнельсон А. А. — Физика твердого тела. Спецпрактикум. Структура твердого тела и магнитные явления

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Комиссаренков А.А. — Рентгенофлуоресцентный метод анализа

Волков Д.П., Кораблев В.А., Заричняк Ю.П. — Методические указания к лабораторным работам по курсу Теплофизические свойства веществ

Под ред.Э.С. Путилина — Оптическая технология

Алексеев С.А., Дмитриев А.Л., Нагибин Ю.Т., Никущенко Е.М.;Супрун А.С., Трофимов В.А., Туркбоев А., Прокопенко В.Т., Яськов А.Д. — Экспериментальные методы исследования

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Сигаев В.Н., Михайленко Н.Ю. — Наноструктурированные стекломатериалы и их применение в современной технике. Том 2

Черноруков Н.Г., Нипрук О.В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Николичев Д.Е., Боряков А.В. — Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии

Марычев М.О., Горшков А.П. — Практическое руководство по оптической спектроскопии твердотельных наноструктур и объёмных материалов

Позднякова С.А., Денисюк И.Ю. — Теория и техника современного физического эксперимента

Глазов В.М., Вигдорович В.Н. — Микротвердость металлов и полупроводников

Панина А.А. — Методы и оборудование для тестирования объемных наноматериалов

Путилин Э.С. (ред.). — Оптическая технология

Долгов В.В., Ованесов Е.Н., Щетникович К.А. — Фотометрия в лабораторной практике

Раецкий В.М., Кутолин С.А. — Действие когерентного излучения на физико-химические свойства неорганических веществ

Дмитревич И.Н., Пругло Г.Ф., и др. — Физико-химические методы анализа. Ч.II

Акрестина А. С. — Исследование кинетических свойств фотохромных стекол

Акрестина А. С. — Измерение коэффициента пропускания цветного оптического стекла

Najčešći pojmovi

электронов

плотности

измерение

оптической

кислорода

фотометра

коэффициента

измерения

пропускания

вещества

температуры

концентрации

раствора

растворов

температуре

кристаллов

охлаждения

поверхности

электроны

залегания

значения

элементов

жидкости

определения

плавкости

зависимости

излучения

кристаллизации

установить

электронной

вторичных

дефектов

измерений

компонентов

методика

определяется

отраженных

растворе

температура